石家庄审核项目申请报告

今天为大家介绍一项国家发明授权**——一种应用在电能表中RTC模块的补偿校准方法及装置。该**由国家电网公司申请，并于2018年8月31日获得授权公告。本发明涉及电力仪器仪表技术领域，特别涉及一种应用在电能表中RTC（Real-TimeClock，实时时钟）模块的补偿校准方法及装置。对于大多数对时间度要求较高的系统来说，RTC模块式必不可少的实时时钟生成模块，它可以为芯片提供地实时时钟。RTC模块一般会外挂晶体，根据晶体的固有振荡频率输出时钟信号，其结构比较简单，成本较低。

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 石家庄审核项目申请报告半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。